[发明专利]存储器单元及形成存储器单元的方法在审

专利信息
申请号: 201811588942.0 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN109994477A 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: 刘海涛;K·M·卡尔达;A·法鲁辛 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: H01L27/11502 分类号: H01L27/11502
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本申请案涉及存储器单元及形成存储器单元的方法。可编程电荷存储晶体管包括沟道材料、绝缘电荷通道材料、电荷存储材料、控制栅极,及所述电荷存储材料与所述控制栅极之间的电荷阻挡材料。所述电荷阻挡材料包括非铁电绝缘体材料及铁电绝缘体材料。揭示存储器单元的竖向延伸的存储器单元串阵列,包含形成此存储器单元的竖向延伸的存储器单元串阵列的方法。揭示其它实施例,包含方法。
搜索关键词: 存储器单元 存储器单元串 电荷存储材料 电荷阻挡材料 控制栅极 竖向延伸 电荷存储晶体管 电绝缘体材料 铁电绝缘体 电荷通道 沟道材料 可编程 申请案 非铁 绝缘
【主权项】:
1.一种可编程电荷存储晶体管,其包括:沟道材料;绝缘电荷通道材料;电荷存储材料;控制栅极;及电荷阻挡材料,其在所述电荷存储材料与所述控制栅极之间,所述电荷阻挡材料包括:非铁电绝缘体材料;及铁电绝缘体材料。
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