[发明专利]一种粒子群自抗扰控制方法、装置及存储介质有效
| 申请号： | 201811591756.2 | 申请日： | 2018-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN109799703B | 公开（公告）日： | 2021-08-31 |
| 发明（设计）人： | 李廷会;陈林奇;高梦园;蔡林峰 | 申请（专利权）人： | 广西师范大学 |
| 主分类号： | G05B13/04 | 分类号： | G05B13/04 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立 |
| 地址： | 541004 广西壮*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明提供一种粒子群自抗扰控制方法、装置及存储介质，其方法包括：根据自抗扰算法确定被控对象的多个状态参数，根据双空间PSO粒子群优化算法对多个可调参数进行整定处理，得到第一级寻优参数；根据局部势能寻优算法对第一级寻优参数进行寻优处理，得到第二级寻优参数；将第二级寻优参数输入ADRC最优自抗扰算法中进行参数更新，通过参数更新后的ADRC最优自抗扰算法控制被控对象；本发明利用自抗扰算法来确定被控对象的多个状态参数，减少无意义的参数参与，降低控制算法的复杂程度，利用双空间PSO粒子群优化算法和局部势能寻优算法优化可调参数，使可调参数精确化，得到最优解，从而通过最优解来控制被控对象，提高控制精准度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粒子 控制 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种粒子群自抗扰控制方法，其特征在于，包括如下步骤：根据自抗扰算法确定被控对象的多个状态参数；根据双空间PSO粒子群优化算法对所述多个可调参数进行整定处理，得到第一级寻优参数；根据局部势能寻优算法对所述第一级寻优参数进行寻优处理，得到第二级寻优参数；将所述第二级寻优参数输入ADRC最优自抗扰算法中进行参数更新，通过参数更新后的ADRC最优自抗扰算法控制所述被控对象。
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