[发明专利]一种包含不同透光性的新型光学掩膜版在审
申请号: | 201811599809.5 | 申请日: | 2018-12-26 |
公开(公告)号: | CN111367142A | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 张振;刘佳擎 | 申请(专利权)人: | 聚灿光电科技(宿迁)有限公司 |
主分类号: | G03F1/88 | 分类号: | G03F1/88 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 223800 江苏省宿迁市宿迁经*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及光刻技术领域,具体涉及一种包含不同透光性的新型光学掩膜版,其制备方法包括以下步骤:a、选取基板;b、在玻璃基板表面镀铬金属膜层;c、铬膜上涂覆光刻胶;d、通过电子束曝光设定图形区域内的光刻胶;e、浸泡刻蚀液;f、去除剩余光刻胶;g、在玻璃基板上镀上部分透光薄膜;h、在部分透光薄膜上均匀涂覆光刻胶;i、通过电子束曝光设定图形区域内的光刻胶;j、浸泡刻蚀液或干法蚀刻;k、去除剩余光刻胶,形成新型光学掩膜版;本申请提供了一种包含不同透光性的新型光学掩膜版,可针对实际需要,一次光刻做出不同高度台阶的光刻胶图形,减少光刻步骤,满足光刻掩膜要求,可在实际的工业生产中被进一步推广。 | ||
搜索关键词: | 一种 包含 不同 透光 新型 光学 掩膜版 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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