[发明专利]发光单元的测试方法在审
| 申请号： | 201811600535.7 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN111369922A | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 王遵义;吴景钧;杨嘉梁 | 申请（专利权）人： | 光远科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 中国台湾桃园市龟*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提出一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元中的第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，包含以下步骤。分别设定第一发光二极管与第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线。提供第三发光二极管，接收关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流。提供第一发光二极管，接收关联于第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流。依据第一光感应电流、第二光感应电流以及第三光感应电流，计算各个发光二极管的衰减程度。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 单元 测试 方法 | ||
【主权项】：
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