[发明专利]基于天线测量系统的系统损耗测试方法有效
| 申请号： | 201811603874.0 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN109728864B | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 刘科宏;陈林斌;孙赐恩;邓东亮;蒋宇 | 申请（专利权）人： | 刘科宏 |
| 主分类号： | H04B17/309 | 分类号： | H04B17/309;G01R29/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 570100 海南*** | 国省代码： | 海南;46 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于天线测量系统的系统损耗测试方法，其特征在于，具体包括以下步骤：方向损耗测试：在被测天线的辐射功率所在线路上接入额外线缆，并分别进行输入线路测试或者输出线路测试，根据两者的测试差值获取测试仪器到探头之间的线损以及探头到被测天线之间的空损；功率损耗测试：在被测天线的发射功率所在线路上接入额外线缆，并分别进行输入线路测试或者输出线路测试，根据两者的测试差值获取被测天线到探头之间的空损以及探头到测试仪器之间的线损。本发明有效测试被测天线在辐射和接受状态下的系统损耗，提高了测试的精度和可靠性，并且可以满足高性能天线的测量要求。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 天线 测量 系统 损耗 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于天线测量系统的系统损耗测试方法，其特征在于，具体包括以下步骤：方向损耗测试：在被测天线的辐射功率所在线路上接入额外线缆，并分别进行输入线路测试或者输出线路测试，根据两者的测试差值获取测试仪器到探头之间的线损以及探头到被测天线之间的空损；功率损耗测试：在被测天线的发射功率所在线路上接入额外线缆，并分别进行输入线路测试或者输出线路测试，根据两者的测试差值获取被测天线到探头之间的空损以及探头到测试仪器之间的线损。
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