[发明专利]测量坐标校正方法和系统有效
| 申请号： | 201811605002.8 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN109579703B | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 方杰 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量坐标校正方法和系统，所述方法包括：获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标；根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正；采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标；将所述测量对象的坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较；当所述测量对象的至少部分坐标处于所述物理测量模块的测量范围之外时，调整所述测量对象的位置，再重新进行比较；当所述测量对象的坐标处于所述物理测量模块的测量范围中时，执行物理测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 坐标 校正 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种测量坐标校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标；根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正，使所述光学镜头的测量范围与所述物理测量模块的测量范围保持一致；采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标；将所述测量对象的坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较；当所述测量对象的至少部分坐标处于所述物理测量模块的测量范围之外时，调整所述测量对象的位置，再重新进行比较；当所述测量对象的坐标处于所述物理测量模块的测量范围中时，执行物理测量。
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