[发明专利]一种集成电路机械手测试结果记录方法

摘要

本发明公开了一种集成电路机械手测试结果记录方法，TrayMap文件包含两部分记录，第一部分包含整个Tray盘整体信息，包含TrayMap文件版本、该Tray盘的编号、该Tray盘对应的产品的批号，该Tray盘的开始测试时间、结束测试时间，机械手编号、操作工编号、调用的配置文件信息、TrayMap的坐标范围、Summary信息；本发明涉及到TrayMap记录方法，包含每个Tray盘中所有芯片的测试时间、测试Bin、总测试时间等。根据这个记录文件可以方便的分析测试结果，并且根据这个TrayMap文件可以溯源测试机生成该芯片的详细Datalog。

主权项

1.一种集成电路机械手测试结果记录方法，其特征在于：定义左上角第一个坐标为(1,1)，依次，第一行第二个为(2,1)，第二行第一个为(1,2)，以此生成坐标系统；每个文件的第一部分记录为该TrayMap的基本信息，记录信息及格式如下：TrayMap文件版本：CTray盘编号：STray盘批号：STray盘开始测试时间：UnixTimeTray盘结束测试时间：UnixTime机械手编号：S操作工编号：S调用的配置文件信息：STrayMap最大行号(X方向)：CTrayMap最大列号(Y方向)：C每个Bin统计数量：ShortShortC表示一个Byte，支持从0～255；S由一位长度和最大255个C组成，其中第一位的长度也为一个C，表示后面共有多少个C；UnixTime时间戳是自1970年1月1日(00:00:00GMT)以来的秒数，它也被称为Unix时间戳(Unix Timestamp)，换算后使用4个Byte的空间来存储；Bin Summay：用两个Short(2个Byte来表示，最大支持65535)，第一个Short表示Bin号，第二个Short表示数量；如下：0x01 0x01 0x41 0x01 0x42 0x5B 0xF9 0x56 0xDD 0x5B 0xF9 0x57 0x1F0x01 0x43 0x01 0x44 0x01 0x45 0x09 0x05 0x00 0x01 0x00 0x05 0x000x02 0x00 0x04 0x00 0x03 0x00 0x07 0x00 0x02 0x00 0x01TrayMap文件版本：1Tray盘编号：ATray盘批号：BTray盘开始测试时间：2018/11/24 21:49:17Tray盘结束测试时间：2018/11/24 21:50:23机械手编号：C操作工编号：D调用的配置文件信息：ETrayMap最大行号(X方向)：9TrayMap最大列号(Y方向)：5Bin Summay：Bin1＝5,Bin2＝4文件的第二部分表示了每个坐标处测试结果；行号(X)：C列号(Y)：C测试开始时间：UnixTime测试结束时间：UnixTimeBin：Short电路测试状态：C，其中00表示该位置没有电路，01表示已测试，02表示未测试；如下：0x01 0x01 0x5B 0xF9 0x56 0xDD 0x5B 0xF9 0x56 0xFF 0x00 0x01 0x01行号(X)：1列号(Y)：1测试开始时间：2018/11/24 21:49:17测试结束时间：2018/11/24 21:49:51Bin：1电路测试状态：已测试0x01 0x02 0x5B 0xF9 0x57 0x00 0x5B 0xF9 0x57 0x0F 0x00 0x02 0x01行号(X)：1列号(Y)：2测试开始时间：2018/11/24 21:49:52测试结束时间：2018/11/24 21:50:07Bin：2依次表示每个坐标上芯片的测试结果；电路测试状态：已测试。