[发明专利]一种西数硬盘缺陷表的数据擦除方法有效
| 申请号： | 201811609825.8 | 申请日： | 2018-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN109726558B | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 赵露;邢桂东;康艳荣;龙源;楚川红;张耀国 | 申请（专利权）人： | 公安部物证鉴定中心 |
| 主分类号： | G06F21/56 | 分类号： | G06F21/56;G06F21/79;G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐宁;孙楠 |
| 地址： | 100038 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种西数硬盘缺陷表的数据擦除方法，其特征在于包括以下步骤：1)不使用P‑List缺陷表对西数硬盘中的永久缺陷表屏蔽区进行擦除；2)不使用G‑List缺陷表对西数硬盘中的增长缺陷表屏蔽区进行擦除；3)对西数硬盘中的固件区缺陷表屏蔽区进行擦除时，使硬盘进入工厂模式，然后将特定数据覆盖写入对应固件区磁道扇区进行擦除。本发明通过自定义工厂命令，对西数硬盘不同缺陷表区的数据进行擦除，擦除方法简单有效，可以广泛应用于西数硬盘未使用固件区的数据擦除领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 硬盘 缺陷 数据 擦除 方法 | ||
【主权项】：
1.一种西数硬盘缺陷表的数据擦除方法，其特征在于包括以下步骤：1)不使用P‑List缺陷表对西数硬盘中的永久缺陷表屏蔽区进行擦除；2)不使用G‑List缺陷表对西数硬盘中的增长缺陷表屏蔽区进行擦除；3)对西数硬盘中的固件区缺陷表屏蔽区进行擦除时，使硬盘进入工厂模式，然后将预设数据覆盖写入对应固件区缺陷表屏蔽区的扇区进行擦除。
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