[发明专利]农作物长势优良水平分析方法及装置

摘要

本申请公开了一种农作物长势优良水平分析方法及装置，其中方法通过获取不同作物品种在不同种植地块发育的经验数据；并确定待分析作物的播种日期；获取种植地块的气象数据，根据气象数据、种植地块、作物品种和经验数据确定待分析作物在该种植地块的各个发育阶段生物学零度和第i日平均气温；确定待分析作物的发育阶段土壤下限温度以及第i日平均土温；实时监测并获得待分析作物的生长监测数据；根据待分析作物的播种日期、各个发育阶段生物学零度、各个发育阶段土壤下限温度、生长监测数据，种植有待分析作物的种植地块的第i日平均气温和第i日平均土温，以及第一作物的各个生育阶段对应的经验数据，得出待分析作物各个生育阶段的长势。

主权项

1.一种农作物长势优良水平分析方法，其特征在于，包括：获取不同作物品种的作物在不同种植地块发育的经验数据；其中，所述经验数据为各个生育阶段的经验数据，包括：各个发育阶段生物学零度、各个发育阶段土壤下限温度、各个生育阶段始末的平均叶面积指数信息和平均株高信息，以及生育阶段信息和各生育阶段的播种时段；根据用户选中的种植地块和作物品种确定待分析作物的播种日期；其中，每个种植地块中包括一种或多种作物品种，且作物品种一致的作物的播种日期也一致；获取所述种植地块的气象数据，根据所述气象数据、种植地块、作物品种和经验数据确定所述待分析作物在该种植地块的各个发育阶段生物学零度和第i日平均气温；根据所述种植地块、作物品种及经验数据确定所述待分析作物的发育阶段土壤下限温度以及第i日平均土温；实时监测并获得所述待分析作物的生长监测数据；其中，所述待分析作物的生长监测数据包括：检测日期、株高和叶面积指数；根据所述待分析作物的播种日期、各个发育阶段生物学零度、各个发育阶段土壤下限温度、生长监测数据，种植有所述待分析作物的种植地块的第i日平均气温和第i日平均土温，以及与所述待分析作物的作物品种一致的第一作物的各个生育阶段对应的经验数据，循环进行判断并得出所述待分析作物各个生育阶段的长势。