[发明专利]一种电性测试设备集中控制系统在审
| 申请号： | 201811616867.4 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN111381115A | 公开（公告）日： | 2020-07-07 |
| 发明（设计）人： | 蔡佳明;陆翔 | 申请（专利权）人： | 海太半导体（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 | 代理人： | 赵华 |
| 地址： | 214000 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电性测试设备集中控制系统，包括系统硬件单元和系统软件单元，所述系统软件单元设置在系统硬件单元内部，所述硬件单元设有工作台面、触屏显示器，所述系统软件单元包括数据收集反馈模块，电性测试设备测试数据并与数据收集反馈模块进行数据传输，数据收集反馈模块与服务器解析模块进行数据传输，服务器解析模块将数据传输到智能终端数据解析模块，并由智能终端数据解析模块传输到智能终端设备，通过硬件与软件的开发，使两者兼容适用，实现对电性测试设备集中控制及产品状态快速转换的功能，提高产品的测试效率，减少产线的产品周转周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 设备 集中 控制系统 | ||
【主权项】：
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