[发明专利]一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法在审
| 申请号： | 201811617109.4 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109657390A | 公开（公告）日： | 2019-04-19 |
| 发明（设计）人： | 张晏铭;李阳阳;董乐;曾元祁;王辉;向伟玮;胡卓非 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 钱成岑 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，该方法通过数据处理、算法建模和仿真模型包构建等主要环节，快速有效地实现了工艺制造能力波动水平分析的一体化工艺IP建模方案。 | ||
| 搜索关键词： | 射频集成 统计建模 建模 一体化工艺 有效地实现 波动水平 仿真模型 工艺制造 数据处理 构建 算法 制造 环节 分析 | ||
【主权项】：
1.一种射频集成制造中工艺IP统计建模方法，其特征在于，包括如下步骤：1)测量并采集测试样本在工作频段内的S参数值为样本数据集；2)将工作频段划分为多个子频段，并计算某一S参数值在所有子频段内的均值mS；3)根据步骤2)所得均值mS，建立分布统计模型S～F(θ,mS)，表示样本数据S参数值服从分布函数F，其中，θ为分布参数；4)建立子频段电性能映射模型：S＝N(fn,mS,w)其中，N表示建模所采用的连续映射模型，S表示模型输出的电性能参数，FN表示仿真时信号流的工作频点，w是模型N中的各类系数参数；5)根据步骤3)和步骤4)，建立工艺IP统计模型。
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