[发明专利]基于改进型三模冗余系统的抗多位翻转错误芯片加固方法

摘要

本发明公开了一种基于改进型三模冗余系统的抗多位翻转错误芯片加固方法，涉及数字集成电路技术领域。本发明通过比较数字集成电路内部寄存器的状态值，进而判断发生单粒子翻转的寄存器，通过表决器，输出控制信号，将未发生单粒子翻转的数字集成电路的寄存器值复制到已发生单粒子翻转的寄存器，完成数字集成电路纠错的功能。

主权项

1.基于改进型三模冗余系统的抗多位翻转错误芯片加固方法，其特征在于：为需要加固的模块增加两组电路结构相同的模块，将需要加固的模块与增加的两组模块内部的全部寄存器的值通过总线输出到独立的表决器中，所述独立的表决器由N‑tap表决器阵列组成，三个模块内部中相同位置的寄存器对应表决器阵列中的一组子表决器；即模块中存在N个寄存器，则表决器阵列存在N组子表决器；所述子表决器对三组模块内部相同位置的寄存器的值进行异或运算，然后对三组模块内部相同位置的寄存器的值进行异或运算的结果分别进行与运算和或运算；得到该位置寄存器的故障检测判决信号；对三组模块内部的所有的寄存器的故障检测判决信号进行与运算和或运算，产生三组模块总体的判决结果，将判决结果输出到控制器，控制器根据判决结果的电平，选择进入恢复性调试状态或异常状态；当进入可恢复性调试状态时，控制器将挑选两组未发生翻转的模块中的任意一组的正确数据，在一个时钟周期内，将挑选出的正确数据写入到发生翻转的模块中的所有寄存器中；当发生寄存器值锁定错误时,通过停止该模块的时钟或停止供电的方式隔离该子模块；当同时检测到两个相同寄存器同时出错的异常状态时，控制器将根据判决结果，重起系统。