[发明专利]一种p型磷掺杂二维二硒化钨半导体材料及其制备方法在审
申请号: | 201811622814.3 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN109650352A | 公开(公告)日: | 2019-04-19 |
发明(设计)人: | 李萍剑;雷明东;徐克赛;青芳竹;张万里;李雪松 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | C01B19/04 | 分类号: | C01B19/04 |
代理公司: | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 | 代理人: | 李蕊 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种p型磷掺杂二维二硒化钨半导体材料及其制备方法,属于半导体材料制备技术领域。该制备方法以Se单质为硒源,以WO3和NaCl的混合物为钨源,以P2O5为磷掺杂源,采用三温区的制备方式,在玻璃衬底上制得p型磷掺杂二维二硒化钨半导体材料;其中,Se单质、P2O5以及NaCl和WO3的混合物分别置于第一温区、第二温区和第三温区中,衬底置于第三温区中。 | ||
搜索关键词: | 半导体材料 温区 磷掺杂 制备 二硒化钨 二维 混合物 衬底 单质 制备技术领域 钨源 硒源 玻璃 | ||
【主权项】:
1.一种p型磷掺杂二维二硒化钨半导体材料的制备方法,其特征在于,该制备方法以Se单质为硒源,以WO3和NaCl的混合物为钨源,以P2O5为磷掺杂源,采用三温区的制备方式,在玻璃衬底上制得p型磷掺杂二维二硒化钨半导体材料;其中,Se单质、P2O5以及NaCl和WO3的混合物分别置于第一温区、第二温区和第三温区中,衬底置于第三温区中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811622814.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种FeSe基超导体及制备方法
- 下一篇:一种高纯二硫化硒的制备方法