[发明专利]一种PCIEx4的散热测试负载卡及散热测试方法在审

专利信息
申请号: 201811625259.X 申请日: 2018-12-28
公开(公告)号: CN109765442A 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 李海杰;邓建廷;白文记;杜雨田;宿韧 申请(专利权)人: 曙光信息产业股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;卢军峰
地址: 300384 天津市西青区华*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种PCIEx4的散热测试负载卡,包括:电子负载电路,包括功率半导体器件,用于根据功耗设定参考电压输出热量,以模拟主控芯片散发热量;指示灯,用于指示所述PCIEx4的散热测试负载卡是否正常工作;散热片,紧贴于所述电子负载电路的功率半导体器件表面。以上的PCIEx4的散热测试负载卡使用功率半导体器件作为功耗元件,相比于功耗电阻的方式,控制方式简单,热量集中,并且更接近于主控芯片的散热情况。并且PCIEx4的负载卡适用于X4、X8、X16规格的插槽,克服PCIEx1板卡连接不紧固的缺点。
搜索关键词: 散热测试 负载卡 功率半导体器件 电子负载电路 主控芯片 指示灯 半导体器件 板卡连接 参考电压 功耗电阻 功耗设定 功耗元件 控制方式 热量集中 散发热量 使用功率 输出热量 散热片 散热 插槽 紧固 紧贴
【主权项】:
1.一种PCIEx4的散热测试负载卡,其特征在于,包括:电子负载电路,包括功率半导体器件,用于根据功耗设定参考电压输出热量,以模拟主控芯片散发热量;指示灯,用于指示所述PCIEx4的散热测试负载卡是否正常工作;散热片,紧贴于所述电子负载电路的功率半导体器件表面。
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