[发明专利]一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法及系统在审
| 申请号： | 201811625935.3 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN111382036A | 公开（公告）日： | 2020-07-07 |
| 发明（设计）人： | 贺春生 | 申请（专利权）人： | 深圳市共进电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 深圳市华盈知识产权代理事务所(普通合伙) 44543 | 代理人： | 王松柏;周婵 |
| 地址： | 518000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于芯片技术领域，公开了一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，包括：获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。相应的，本发明还公开了一种自动生成DDR芯片测试标准报告的系统。实施本发明，可以规避之前人工手动查找测试标准的所有弊端，报告质量较好，成本较低，可以适用于所有研发阶段的DDR芯片测试标准的查找。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动 生成 ddr 芯片 测试 标准 报告 方法 系统 | ||
【主权项】：
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