[发明专利]一种电阻测试装置及系统有效
| 申请号： | 201811628292.8 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109633277B | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 黄荣;赵华;周旦兴;车全罚;李雷生;唐政;高云峰 | 申请（专利权）人： | 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族电机科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 | 代理人： | 陈琳 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子产品测试领域，具体涉及一种电阻测试装置。所述电阻测试装置包括设有测试槽且用于放置待测产品的治具，设于治具下方且用于测试待测产品正面电阻的第一测试机构，以及用于将待测产品压向第一测试机构的压紧机构，第一测试机构设有至少一第一测试端且每一所述第一测试端可穿设测试槽与待测产品抵触。本发明还涉及一种电阻测试系统。通过设置设有测试槽的治具，第一测试机构，以及压紧机构，压紧机构将放置于治具内的待测产品压向第一测试机构，第一测试机构设有至少一第一测试端且第一测试端可穿设测试槽与待测产品接触，实现对待测产品正面电阻的测试，提高产品电阻测试的自动化程度，降低人工成本，提高测试效率，且结构简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电阻 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种电阻测试装置，其特征在于：所述电阻测试装置包括设有测试槽且用于放置待测产品的治具，设于治具下方且用于测试待测产品正面电阻的第一测试机构，以及用于将待测产品压向第一测试机构的压紧机构，所述第一测试机构设有至少一第一测试端且每一所述第一测试端可穿设测试槽与待测产品抵触。
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