[发明专利]一种Mg-RE-Zn系镁合金的透射薄膜试样的制备方法在审
| 申请号： | 201811635287.X | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109682848A | 公开（公告）日： | 2019-04-26 |
| 发明（设计）人： | 李婷;付新;徐云培;李聪;贾荣光;夏雯;屈娟 | 申请（专利权）人： | 国合通用测试评价认证股份公司;国标（北京）检验认证有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2005 | 分类号： | G01N23/2005;G01N23/20058 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 张文宝 |
| 地址： | 100088 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种Mg‑RE‑Zn系镁合金的透射薄膜试样的制备方法，该方法包括以下步骤：(1)将Mg‑RE‑Zn系镁合金块状试样切割成厚度为1mm左右的薄片；(2)将步骤(1)所得薄片用金刚砂纸研磨至0.1mm厚；而且薄片一侧研磨至表面光滑；(3)采用金刚砂纸分别研磨步骤(2)所得薄片两侧，直至薄片厚度约为0.06mm；(4)在铳样机上将步骤(3)所得薄片铳成圆片；(5)将步骤(4)所得圆片置于电解双喷减薄仪中进行双喷减薄；直至圆片中心出现小孔为止；(6)将步骤(5)所得圆片置于离子减薄仪，进气口氩气压力约为0.18Mpa，所得物即为Mg‑RE‑Zn系镁合金的透射薄膜试样。本方法制备的Mg‑RE‑Zn系镁合金薄膜样品，可用于透射电镜观察的薄区较大，样品表面干净无污染层，成本低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 镁合金 透射薄膜 制备 研磨 减薄 圆片 进气口 砂纸 离子减薄仪 薄膜样品 电解双喷 块状试样 砂纸研磨 透射电镜 无污染层 样品表面 圆片中心 氩气压力 成圆片 所得物 薄区 可用 小孔 样机 切割 观察 | ||
【主权项】：
1.一种Mg‑RE‑Zn系镁合金的透射薄膜试样的制备方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)将Mg‑RE‑Zn系镁合金块状试样切割成厚度为1mm左右的薄片；(2)将步骤(1)所得薄片用金刚砂纸研磨至0.1mm厚；而且薄片一侧研磨至表面光滑；(3)采用金刚砂纸分别研磨步骤(2)所得薄片两侧，直至薄片厚度约为0.06mm；(4)在铳样机上将步骤(3)所得薄片铳成圆片；(5)将步骤(4)所得圆片置于电解双喷减薄仪中进行双喷减薄；直至圆片中心出现小孔为止；(6)将步骤(5)所得圆片置于离子减薄仪，进气口氩气压力约为0.18Mpa，所得物即为Mg‑RE‑Zn系镁合金的透射薄膜试样。
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