[发明专利]用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置有效
| 申请号： | 201811637828.2 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109540339B | 公开（公告）日： | 2023-09-26 |
| 发明（设计）人： | 张金强;宣越健;贾盛洁;毕登辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大气物理研究所;北京中科技达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01K13/024 | 分类号： | G01K13/024;G01J5/00;G01W1/02 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅 |
| 地址： | 100029 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置，按照本发明提供的技术方案，所述用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备，包括用于收纳数据采集存储处理单元的载荷舱，在所述载荷舱的上表面设置上端影响因素测量单元，在载荷舱的下表面设置下端影响因素测量单元，还包括与载荷舱下表面连接的悬挂温度测量单元，所述上端影响因素测量单元、下端影响因素测量单元以及悬挂温度测量单元均与数据采集存储处理单元电连接；本发明结构紧凑，连续观测时间长，能实现多要素测量，抗干扰能力强，能有效确定高空气球平台大气温度测量受辐射影响的情况，安全可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 高空 气球 平台 大气 温度 测量 辐射 影响 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备，其特征是：包括用于收纳数据采集存储处理单元的载荷舱（1），在所述载荷舱（1）的上表面设置上端影响因素测量单元，在载荷舱（1）的下表面设置下端影响因素测量单元，还包括与载荷舱（1）下表面连接的悬挂温度测量单元，所述上端影响因素测量单元、下端影响因素测量单元以及悬挂温度测量单元均与数据采集存储处理单元电连接；所述上端影响因素测量单元包括用于测量短波辐射的上短波辐射表（2）、用于测量长波辐射的上长波辐射表（6）以及用于测量上端表面温度的上温度传感器（4）；所述下端影响因素测量单元包括用于测量短波辐射的下短波辐射表（15）、用于测量长波辐射的下长波辐射表（7）以及用于测量下端表面温度的下温度传感器（13），所述悬挂温度测量单元包括连接导线（8）以及位于所述连接导线（8）端部的悬挂温度传感器（9），悬挂温度传感器（9）通过连接导线（8）与数据采集存储处理单元电连接；所述数据采集存储处理单元能采集并存储上短波辐射表（2）测量的上端表面短波辐射值、上长波辐射表（6）测量的上端表面长波辐射值、上温度传感器（4）测量的上端表面温度值、下短波辐射表（15）测量的下端表面短波辐射值、下长波辐射表（7）测量的下端表面长波辐射值、下温度传感器（13）测量的下端表面温度值以及悬挂温度传感器（9）测量的悬挂温度值，且能根据数据采集存储处理单元所采集并存储的上端表面短波辐射值、上端表面长波辐射值、上端表面温度值、下端表面短波辐射值、下端表面长波辐射值、下端表面温度值以及悬挂温度值能确定辐射对高空气球平台大气温度测量的影响状态。
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