[发明专利]一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置

摘要

本发明涉及一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置，所述射线探测装置包括支撑架，所述支撑架中心设有供流体管道通过的管道通孔，所述管道通孔的外壁上设有若干射线探测组件，射线探测组件沿垂直于管道通孔的周向分布；所述射线探测组件包括闪烁晶体和探测器，闪烁晶体位于管道通孔的外壁与探测器之间。本发明利用闪烁晶体的本征射线进行全截面测量，不但能够取消现有技术射线测量装置中的放射源，降低系统的成本，减小设备的体积，极大的提高系统的安全性和可靠性。同时，由于Lu‑176的半衰期为2.1×10¹⁰年，设备不会由于放射装置老化而产生性能下降，极大的提高了系统的稳定性和使用寿命。

主权项

1.一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置，其特征在于：包括支撑架（1），所述支撑架（1）中心设有供流体管道通过的管道通孔（2），所述管道通孔（2）的外壁上设有若干射线探测组件（3），所述射线探测组件（3）安装在支撑架（1）上并沿垂直于管道通孔（2）的周向分布；所述射线探测组件（3）包括闪烁晶体（31）和探测器（32），闪烁晶体（31）位于管道通孔（2）的外壁与探测器（32）之间。