[发明专利]漫反射率检测装置与方法在审

专利信息
申请号: 201811640678.0 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109632717A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 杨子荣;黄杰凡 申请(专利权)人: 深圳奥比中光科技有限公司
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 郭光美
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提出一种漫反射率检测装置与方法,其装置包括:单色光产生器,用于产生单色光,并将所述单色光投射到漫反射平面上;漫反射平面,包含已知漫反射率的漫反射平面和待检测的漫反射平面,用于接收所述单色光产生器产生的单色光,并产生漫反射光束;积分球,用于对所述漫反射光束进行多次反射,使得所述漫反射光束的能量均匀化;光接收器,用于测量经所述积分球多次反射后的漫反射光束的信号值。本发明的漫反射率检测装置与方法,通过积分球法实现了对漫反射平面漫反射率的准确检测。
搜索关键词: 漫反射率 单色光 漫反射 漫反射光束 检测装置 积分球 多次反射 产生器 光接收器 准确检测 均匀化 投射 测量 检测
【主权项】:
1.一种漫反射率检测装置,其特征在于,包括:单色光产生器,用于产生单色光,并将所述单色光投射到漫反射平面上;漫反射平面,包含已知漫反射率的漫反射平面和待检测的漫反射平面,用于接收所述单色光产生器产生的单色光,并产生漫反射光束;积分球,用于对所述漫反射光束进行多次反射,使得所述漫反射光束的能量均匀化;光接收器,用于测量经所述积分球多次反射后的漫反射光束的信号值。
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