[发明专利]托盘及包含其的芯片测试装置在审

专利信息
申请号: 201811640959.6 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN111381149A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 王建祥;欧阳志武 申请(专利权)人: 希姆通信息技术(上海)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 上海弼兴律师事务所 31283 代理人: 薛琦;杨东明
地址: 200335 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种托盘及包含其的芯片测试装置。所述托盘用于放置芯片,所述托盘的表面设置一凹槽,所述凹槽的侧面设有多个台阶部,多个所述台阶部位于同一平面上。该芯片测试装置包括:测试箱,所述测试箱用于测试芯片;如上所述的托盘;传送机构,所述传送机构用于将所述托盘传送到所述测试箱中;以及扫码器,所述扫码器设于所述测试箱中;其中,所述芯片上设有条形码或二维码,所述扫码器能够扫描所述条形码或二维码。托盘中的多个台阶部能够较好地托住芯片,从而使得芯片在测试过程中稳定放置。芯片测试装置可以稳定地传送芯片并且测试芯片。
搜索关键词: 托盘 包含 芯片 测试 装置
【主权项】:
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