[发明专利]闪存器件及其边界字线配置方法/系统、存储介质/控制器有效

专利信息
申请号: 201811642832.8 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109887534B 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 刘世军;于楠;陈敬沧;陈刚 申请(专利权)人: 上海百功半导体有限公司
主分类号: G11C8/14 分类号: G11C8/14;G11C16/08
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 徐秋平
地址: 201409 上海市奉贤区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种闪存器件及其边界字线配置方法/系统、存储介质/控制器,所述闪存器件的边界字线配置方法包括:以预设的闪存结构块为单位结构,配置边界字线;所述预设的闪存结构块为N层3D闪存结构;N为大于或等于16的正整数。本发明通过将闪存器件设计中的边界字线WL设定为SLC/MLC/TLC/QLC等属性的存储单元,减少了过多不用边界字线WL的概率,有效地提高了闪存器件的使用效率和容量。
搜索关键词: 闪存 器件 及其 边界 配置 方法 系统 存储 介质 控制器
【主权项】:
1.一种闪存器件的边界字线配置方法,其特征在于,所述闪存器件的边界字线配置方法包括:以预设的闪存结构块为单位结构,配置边界字线;所述预设的闪存结构块为N层3D闪存结构;N为大于或等于16的正整数;对所述单位结构配置边界字线的方法包括:配置为000时,所述单位结构的第0字线层、第1字线层、第N‑2字线层和第N‑1字线层均配置为空闲字线层,其余字线层配置为QLC存储单元使用属性;配置为001时,所述单位结构的第0字线层、第1字线层、第N‑2字线层和第N‑1字线层均配置为空闲字线层,第2字线层和第N‑3字线层配置为SLC存储单元使用属性,其余字线层配置为QLC存储单元使用属性;配置为010时,所述单位结构的第0字线层、第1字线层、第N‑2字线层和第N‑1字线层均配置为空闲字线层,第2字线层和第N‑3字线层配置为SLC存储单元使用属性,第3字线层和第N‑4字线层配置为MLC存储单元使用属性,其余字线层配置为QLC存储单元使用属性;配置为011时,所述单位结构的第0字线层、第1字线层、第N‑2字线层和第N‑1字线层均配置为空闲字线层,第2字线层和第N‑3字线层配置为SLC存储单元使用属性,第3字线层和第N‑4字线层配置为MLC存储单元使用属性,第4字线层和第N‑5字线层配置为TLC存储单元使用属性,其余字线层配置为QLC存储单元使用属性;配置为100时,所述单位结构的第0字线层和第N‑1字线层均配置为空闲字线层,其余字线层配置为QLC存储单元使用属性;配置为101时,所述单位结构的第0字线层和第N‑1字线层均配置为空闲字线层,第1字线层和第N‑2字线层配置为SLC存储单元使用属性,其余字线层配置为QLC存储单元使用属性;配置为110时,所述单位结构的第0字线层和第N‑1字线层均配置为空闲字线层,第1字线层和第N‑2字线层配置为SLC存储单元使用属性,第2字线层和第N‑3字线层配置为MLC存储单元使用属性,其余字线层配置为QLC存储单元使用属性;配置为111时,所述单位结构的第0字线层和第N‑1字线层均配置为空闲字线层,第1字线层和第N‑2字线层配置为SLC存储单元使用属性,第2字线层和第N‑3字线层配置为MLC存储单元使用属性,第3字线层和第N‑4字线层配置为TLC存储单元使用属性,其余字线层配置为QLC存储单元使用属性。
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