[发明专利]半导体器件及制作方法有效

专利信息
申请号: 201811653145.6 申请日: 2018-12-30
公开(公告)号: CN111384167B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 赵树峰 申请(专利权)人: 苏州能讯高能半导体有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/06;H01L21/335
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 李静文
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请提供的半导体器件及制作方法。所述半导体器件包括:设置在衬底上的第一半导体层;设置在第一半导体层远离衬底一侧的第二半导体层;设置在所述半导体层远离所述衬底一侧的至少两个电极,其中任意相邻的两个电极分别为第一电极和第二电极;设置在所述第一电极一侧的复合结构,且所述复合结构和第一电极连接形成复合电极;所述复合结构包括第三半导体层和位于第三半导体层远离衬底一侧的第四半导体层;所述第四半导体层的电极性与所述的第二半导体层的电极性相反。通过复合结构和第一电极之间电连接形成复合漏电极,可以有效地提高器件的性能。
搜索关键词: 半导体器件 制作方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州能讯高能半导体有限公司,未经苏州能讯高能半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811653145.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top