[实用新型]电容芯片测试插座有效
| 申请号： | 201820004034.1 | 申请日： | 2018-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN207923937U | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 甘贞龙;李成君;侯燕兵 | 申请（专利权）人： | 法特迪精密科技（苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 张欢勇 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电容芯片测试插座，包括测试盖和测试座，所述测试盖设置在所述测试座的上方，所述测试座与测试盖可翻转连接，所述测试座与测试盖之间设有卡紧装置和旋转装置，所述卡紧装置设置在旋转装置相对的一侧，所述测试盖与测试座之间设置有电容芯片，所述测试座包括上座体和下座体，所述上座体与下座体通过螺栓连接，所述测试座底部设置有螺旋顶杆结构，所述螺旋顶杆结构贯穿所述测试座与所述电容芯片相抵接，所述测试座上设有若干测试针，所述电容芯片与若干所述测试针卡接，方便取出电容芯片，能够实现电容芯片高频率测试。 | ||
| 搜索关键词： | 测试座 电容芯片 测试 螺旋顶杆结构 测试插座 卡紧装置 旋转装置 测试针 上座体 下座体 本实用新型 可翻转连接 螺栓连接 高频率 卡接 取出 相抵 贯穿 | ||
【主权项】：
1.一种电容芯片测试插座，包括测试盖(1)和测试座(2)，所述测试盖(1)设置在所述测试座(2)的上方，所述测试座(2)与测试盖(1)可翻转连接，所述测试座(2)与测试盖(1)之间设有卡紧装置(4)和旋转装置(5)，所述卡紧装置(4)设置在旋转装置(5)相对的一侧，其特征在于：所述测试盖(1)与测试座(2)之间设置有电容芯片(7)，所述测试座(2)包括上座体(21)和下座体(22)，所述上座体(21)与下座体(22)通过螺栓连接，所述测试座(2)底部设置有螺旋顶杆结构(6)，所述螺旋顶杆结构(6)贯穿所述测试座(2)与所述电容芯片(7)相抵接，所述测试座(2)上设有若干测试针(8)，所述电容芯片(7)与若干所述测试针(8)卡接。
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