[实用新型]一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统有效
申请号: | 201820024768.6 | 申请日: | 2018-01-08 |
公开(公告)号: | CN207743192U | 公开(公告)日: | 2018-08-17 |
发明(设计)人: | 邰凯平;王忠良 | 申请(专利权)人: | 中国科学院金属研究所 |
主分类号: | H01J37/20 | 分类号: | H01J37/20;H01J37/26 |
代理公司: | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 | 代理人: | 张志伟 |
地址: | 110016 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本实用新型涉及透射电子显微镜配件及低维材料原位测量研究领域,具体为一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统。该系统包括:用于传导电信号的高真空圆形气密连接器、表面绝缘的中空样品杆框架、置于样品杆框架内的导线、陶瓷加热片、热敏电阻、控温单元、加热芯片等。热敏电阻和陶瓷加热集成于微型样品台上,通过导线和圆形气密连接器与外部电路单元连接,用于监控微型样品台的加热温度、加热速率和温度稳定性;加热芯片置于微型样品台上,可进一步对样品微区进行温度调控。本实用新型最大限度地实现在真空环境中和加热、加电外场条件下对材料宏观性能的原子尺度测量与研究,广泛适用于探究各种高温相变、电学性能、热电性能、化学反应等。 | ||
搜索关键词: | 样品杆 透射电子显微镜 加热 微型样品 连接器 本实用新型 加热芯片 热敏电阻 电学 气密 外部电路单元 化学反应 传导电信号 陶瓷加热片 温度稳定性 表面绝缘 低维材料 电学性能 高温相变 控温单元 热电性能 外场条件 温度调控 原位测量 原子尺度 真空环境 高真空 速率和 中空 加电 微区 陶瓷 测量 配件 中和 监控 研究 宏观 | ||
【主权项】:
1.一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统,其特征在于:该系统依次包括中空样品杆框架(1)、传导电信号的高真空圆形气密连接器(2)、陶瓷加热片(3)、热敏电阻(4)、外部电路单元、置于中空样品杆框架内的金属导线(5)、微型样品台(6)、加热芯片(7),具体结构如下:样品杆框架(1)为中空结构,其表面沉积绝缘涂层,避免其中的金属导线(5)与样品杆框架(1)短路产生安全隐患,样品杆框架(1)的末端与传导电信号的高真空圆形气密连接器(2)相连,通过传导电信号的高真空圆形气密连接器(2),隔绝样品杆框架(1)内部高真空与外部大气环境,传导电信号的高真空圆形气密连接器(2)通过金属导线(5)连接样品杆系统前端的陶瓷加热片(3)、热敏电阻(4)、加热芯片(7)与外部电路单元;陶瓷加热片(3)和热敏电阻(4)集成于微型样品台(6)上,通过金属导线(5)和传导电信号的高真空圆形气密连接器(2)与外部电路单元相连,用于监控对微型样品台的加热温度和加热速率。
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