[实用新型]一种用于IGBT绝缘栅双极型晶体管的测试适配器有效
| 申请号： | 201820046122.8 | 申请日： | 2018-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN207752106U | 公开（公告）日： | 2018-08-21 |
| 发明（设计）人： | 冯振平;杨行 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 王刚 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于IGBT绝缘栅双极型晶体管的测试适配器，包括插口和磁环，所述插口为三个且彼此分立，所述测试适配器的插口处内侧边缘分别设有两个夹片，一端插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的B端连接，中间插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的C端连接，另一端插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的E端连接；每条接线上均设有磁环，所述每条接线分别从每个磁环的环孔穿过。本实用新型提供一种用于IGBT管的测试适配器，能够提高被测器件的测试效率以及测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 接线 测试适配器 插口处 夹片 半导体分立器件 测试系统 磁环 绝缘栅双极型晶体管 本实用新型 插口 被测器件 测试效率 内侧边缘 分立 环孔 穿过 测试 | ||
【主权项】：
1.一种用于IGBT绝缘栅双极型晶体管的测试适配器，其特征在于，包括插口和磁环，所述插口为三个且彼此分立，所述测试适配器的插口处内侧边缘分别设有两个夹片，一端插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的B端连接，中间插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的C端连接，另一端插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的E端连接；每条接线上均设有磁环，所述每条接线分别从每个磁环的环孔穿过。
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