[实用新型]一种氮化镓系高光效LED外延垒晶片及芯片有效

专利信息
申请号: 201820089758.0 申请日: 2018-01-19
公开(公告)号: CN207883719U 公开(公告)日: 2018-09-18
发明(设计)人: 颜建锋;敖辉;彭泽洋;庄文荣;孙明 申请(专利权)人: 东莞市中晶半导体科技有限公司
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 523500 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种氮化镓系高光效LED外延垒晶片及芯片,包括:外延垒晶衬底、外延垒晶层,外延垒晶层依次包括:缓冲层、n型氮化镓、量子阱、p型氮化镓,在量子阱与n型氮化镓之间包括一层高缺陷密度层:缓冲层:在n型氮化镓与外延垒晶衬底之间生长氮化镓缓冲层;n型氮化镓:生长于氮化镓高缺陷密度层之上,量子阱之下;高缺陷密度层:在量子阱与n型氮化镓之间,为含C缺陷层;量子阱:为发光层,在高缺陷密度层与p型氮化镓之间;p型氮化镓:生长于氮化镓量子阱之上。本实用新型的LED外延垒晶片提高了现有技术同等规格LED外延片制备的芯片的光效。
搜索关键词: 量子阱 密度层 晶片 本实用新型 氮化镓系 芯片 氮化镓 高光效 缓冲层 衬底 生长 氮化镓缓冲层 发光层 缺陷层 光效 制备
【主权项】:
1.一种氮化镓系高光效LED外延垒晶片,其特征在于,包括:外延垒晶衬底、外延垒晶层,外延垒晶层依次包括:缓冲层、n型氮化镓、量子阱、p型氮化镓,在量子阱与n型氮化镓之间包括一层高缺陷密度层:缓冲层:在n型氮化镓与外延垒晶衬底之间生长氮化镓缓冲层;n型氮化镓:生长于氮化镓高缺陷密度层之上,量子阱之下;高缺陷密度层:在量子阱与n型氮化镓之间;量子阱:为发光层,在高缺陷密度层与p型氮化镓之间;p型氮化镓: 生长于氮化镓量子阱之上。
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