[实用新型]一种测量介质厚度的测量装置有效

专利信息
申请号: 201820089948.2 申请日: 2018-01-17
公开(公告)号: CN207730118U 公开(公告)日: 2018-08-14
发明(设计)人: 刘烨;侯加根;贺杰韬;刘钰铭;王怀民;张翔宇 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹;吴欢燕
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及无机非金属新材料性能的测试技术领域,公开了一种测量介质厚度的测量装置,包括:下支撑台;上支撑台,所述上支撑台通过支撑柱与所述下支撑台上下相对设置并且间隔开;上极片,所述上极片设置在所述上支撑台的下方;位置调节组件,所述位置调节组件的第一端穿过所述上支撑台并与所述上极片固定连接;下极片,所述下极片设置在所述下支撑台的上表面;设置在所述下极片的上表面且能够容纳待测样品粉末的腔体结构;以及设置在所述腔体结构的外围并能够承接从所述腔体结构溢出的待测样品粉末的收纳结构。该测量装置具有避免待测样品粉末溢出导致难清理的优点。
搜索关键词: 上支撑台 测量装置 待测样品 腔体结构 上极片 极片 位置调节组件 测量介质 下支撑台 上表面 溢出 测试技术领域 本实用新型 无机非金属 新材料性能 收纳结构 相对设置 第一端 下支撑 支撑柱 承接 容纳 外围 穿过
【主权项】:
1.一种测量介质厚度的测量装置,其特征在于,包括:下支撑台;上支撑台,所述上支撑台通过支撑柱与所述下支撑台上下相对设置并且间隔开;上极片,所述上极片设置在所述上支撑台的下方;位置调节组件,所述位置调节组件的第一端穿过所述上支撑台并与所述上极片固定连接;下极片,所述下极片设置在所述下支撑台的上表面;设置在所述下极片的上表面且能够容纳待测样品粉末的腔体结构;以及设置在所述腔体结构的外围并能够承接从所述腔体结构溢出的待测样品粉末的收纳结构。
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