[实用新型]晶片频率分选装置有效
| 申请号： | 201820264829.6 | 申请日： | 2018-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN207883662U | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 周朱华;王祖勇 | 申请（专利权）人： | 嘉兴晶控电子有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67 |
| 代理公司： | 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253 | 代理人： | 李伊飏 |
| 地址： | 314000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及晶片频率分选装置，包括底座、金属板、滑板、接料框、支架、摆杆、推板、频率测试仪器，底座上嵌设有与其表面平齐的金属板，底座两侧均设置有滑板，滑板上端与底座上表面平齐，滑板下端设置有位于底座侧面的接料框，底座上设置有支架，支架两侧均铰接设置有摆杆，摆杆端部设置有弧形的推板，支架顶部设置有频率测试仪器，频率测试仪器的金属探头固定于金属板正上方的支架上；本实用新型在测试时，通过推板调整晶片的位置，测试完成后通过推板将晶片推入接料框内，整个过程不用手接触晶片，避免了晶片的损伤和污染。 | ||
| 搜索关键词： | 晶片 滑板 推板 频率测试 接料框 支架 底座 本实用新型 分选装置 金属板 摆杆 底座上表面 测试 摆杆端部 表面平齐 底座侧面 底座两侧 铰接设置 金属探头 支架顶部 支架两侧 手接触 上端 平齐 推入 下端 损伤 金属 污染 | ||
【主权项】：
1.晶片频率分选装置，其特征在于：包括底座、金属板、滑板、接料框、支架、摆杆、推板、频率测试仪器，底座上嵌设有与其表面平齐的金属板，底座两侧均设置有滑板，滑板上端与底座上表面平齐，滑板下端设置有位于底座侧面的接料框，底座上设置有支架，支架两侧均铰接设置有摆杆，摆杆端部设置有弧形的推板，支架顶部设置有频率测试仪器，频率测试仪器的金属探头固定于金属板正上方的支架上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
