[实用新型]PCB板耐电压测试治具有效

专利信息
申请号: 201820314891.1 申请日: 2018-03-06
公开(公告)号: CN207965036U 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 任城洵;张传超;付凤奇;谢伦魁 申请(专利权)人: 深圳市景旺电子股份有限公司
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型属于PCB板测试设备技术领域,尤其涉及一种PCB板耐电压测试治具,包括测试套架、若干第一测试针和若干第二测试针组,测试套架内开设有若干装配腔,装配腔内设有磁芯套件,各第一测试针、各第二测试针组和各磁芯套件一一对应设置,各第二测试针组均包括若干第二测试针,第一测试针插设入装配腔中以与磁芯套件电性连接,各第一测试针串联连接,各第二测试针均插设入装配腔中以分别与待测PCB板的各测试部电性连接,与各待测PCB板的相同测试部电性连接的各第二测试针串联连接,这样仅需制造一套测试架,便实现了对待测PCB板的不同测试部的耐高电压测试,进而显著提升了PCB板的测试效率,同时也显著降低了PCB板的测试成本。
搜索关键词: 测试针 测试 装配腔 磁芯套件 电性连接 耐电压测试 插设 套架 治具 设备技术领域 一一对应设置 本实用新型 测试成本 测试效率 耐高电压 测试架 内开 制造
【主权项】:
1.一种PCB板耐电压测试治具,其特征在于:包括测试套架、若干第一测试针和若干第二测试针组,所述测试套架内开设有若干装配腔,所述装配腔内设有用于夹持待测PCB板的磁芯套件,各所述第一测试针、各所述第二测试针组和各所述磁芯套件一一对应设置,各所述第一测试针均插设入所述装配腔中以与所述磁芯套件电性连接,各所述第一测试针串联连接,各所述第二测试针组均包括若干第二测试针,各所述第二测试针均插设入所述装配腔中以分别与所述待测PCB板露出于所述磁芯套件外的各测试部电性连接,与各所述待测PCB板的相同测试部电性连接的各所述第二测试针串联连接。
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