[实用新型]双面测试装置及系统有效
申请号: | 201820360483.X | 申请日: | 2018-03-16 |
公开(公告)号: | CN207925435U | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
发明(设计)人: | 曲健 | 申请(专利权)人: | 北京德雷射科光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;F21S8/00;F21V3/02;F21V7/05;F21V23/04;F21V33/00 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 郭新娟 |
地址: | 100000 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供了双面测试装置及系统,涉及硬件测试技术领域,其中,该双面测试装置包括:灯罩和位于灯罩外部的腔体,腔体内壁设置有用于反射光的反射板,并且,上述腔体和灯罩之间设置有玻璃,灯罩内部设置有光源,在工作时,光源向探针排所在的一侧发射光线,光源和玻璃之间设置有探针排和铜排,探针排靠近光源,铜排靠近玻璃,探针排和铜排之间设置有电池片,这样,光源发射的光线经灯罩及灯罩外部的腔体有效聚拢,光线照射到探针排上使电池片的一面进行测试,光线经反射板及灯罩外部的腔体的反射打到铜排上,并经过铜排上的间隙将光线照射到电池片的另一面进行测试,通过上述过程,方便快捷的实现了对双面电池片的有效测试。 | ||
搜索关键词: | 探针排 铜排 腔体 光源 灯罩 灯罩外部 双面测试 电池片 装置及系统 光线照射 反射板 玻璃 本实用新型 双面电池片 测试 灯罩内部 发射光线 光源发射 腔体内壁 硬件测试 有效测试 反射光 聚拢 反射 | ||
【主权项】:
1.一种双面测试装置,其特征在于,包括:灯罩和位于所述灯罩外部的腔体,所述腔体内壁设置有用于反射光的反射板,所述腔体和所述灯罩之间设置有玻璃;所述灯罩内部设置有光源,所述光源和所述玻璃之间设置有探针排和铜排,所述探针排靠近所述光源,所述铜排靠近所述玻璃;所述探针排和所述铜排之间设置有电池片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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