[实用新型]测试结构及阵列基板有效
| 申请号： | 201820395644.9 | 申请日： | 2018-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN208421456U | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 龙春平 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;张天舒 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种测试结构及阵列基板，该测试结构包括测试晶体管，该测试晶体管的沟道宽长比大于10。本实用新型提供的测试结构，其可以提高测试晶体管的充电能力，从而可以缩短测试时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试结构 测试晶体管 本实用新型 沟道宽长比 测试效率 充电能力 阵列基板 测试 | ||
【主权项】：
1.一种测试结构，包括用于将测试信号引入阵列基板的测试晶体管，其特征在于，所述测试晶体管的沟道宽长比大于10；所述测试晶体管的沟道长度的取值范围在2～10微米；所述测试晶体管的沟道宽度的取值范围在10～50微米；对应所述阵列基板的任意相邻两条数据线，所述测试晶体管分为两组测试晶体管组，每组所述测试晶体管组中有至少一个所述测试晶体管；并且，所述测试结构还包括两条测试信号线和一条测试控制栅线，其中，两条所述测试信号线分别与两组中的所述测试晶体管的源极连接；两组中的所述测试晶体管的栅极均与所述测试控制栅线连接。
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