[实用新型]单片半导体器件和半导体器件有效

专利信息
申请号: 201820399760.8 申请日: 2017-07-18
公开(公告)号: CN208189592U 公开(公告)日: 2018-12-04
发明(设计)人: J·W·霍尔;G·M·格里弗纳 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张小稳
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开涉及单片半导体器件和半导体器件。本实用新型要解决的一个技术问题是提供改进的单片半导体器件和改进的半导体器件。该单片半导体器件包括:衬底,所述衬底包括形成到所述衬底的第一表面中的控制区域、第一功率区域和第二功率区域;第一功率器件,形成在所述第一功率区域中;第二功率器件,形成在所述第二功率区域中;控制电路,形成在所述控制区域中;以及第一隔离沟槽,形成到与所述衬底的所述第一表面相对的所述衬底的第二表面中以将所述第一功率器件和所述第二功率器件隔离。通过本实用新型,可以获得改进的单片半导体器件和改进的半导体器件。
搜索关键词: 单片半导体器件 衬底 半导体器件 功率器件 功率区域 本实用新型 第一表面 控制区域 改进 第二表面 隔离沟槽 控制电路 隔离
【主权项】:
1.一种单片半导体器件,包括:衬底,所述衬底包括形成到所述衬底的第一表面中的控制区域、第一功率区域和第二功率区域;第一功率器件,形成在所述第一功率区域中;第二功率器件,形成在所述第二功率区域中;控制电路,形成在所述控制区域中;以及第一隔离沟槽,形成到与所述衬底的所述第一表面相对的所述衬底的第二表面中以将所述第一功率器件和所述第二功率器件隔离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于半导体元件工业有限责任公司,未经半导体元件工业有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201820399760.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top