[实用新型]一种简易的高精度的射频测试系统有效
| 申请号： | 201820408365.1 | 申请日： | 2018-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN208314133U | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 谢利超;李嘉鹏;蔡元宏 | 申请（专利权）人： | 瑞兴恒方网络（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H04B17/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种简易的高精度的射频测试系统，包括测试底板和测试治具，测试底板可以实现测试电路控制和测试数据的记录，测试治具用来固定待测设备和测试底板的精确连接，测试底板安装在测试治具内；测试底板主控MCU通过UART通讯口控制8个待测设备和RHF3M076标准LoRa模块，RHF3M076标准LoRa模块承担本测试系统射频测试任务，8个待测设备分时工作，射频输入输出也通过一个8路射频开关连接到RHF3M076标准LoRa模块的射频口，为了使模块工作在射频正常输入输出电频范围，链路中间加载适当的射频衰减器。本实用新型使用在批量生产产线可以实现自动化测试，大大提高了生产的便利和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试底板 测试治具 待测设备 射频测试系统 本实用新型 简易 射频衰减器 自动化测试 输出 测试电路 测试数据 测试系统 开关连接 射频测试 射频输入 主控MCU 路射频 射频口 通讯口 产线 分时 加载 链路 射频 生产 便利 记录 | ||
【主权项】：
1.一种简易的高精度的射频测试系统，包括:测试底板、测试治具、主控MCU、UART通讯口、LoRa模块、射频衰减器和待测设备；所述测试底板可以实现测试电路控制和测试数据的记录；所述测试底板主控MCU通过UART通讯口控制待测设备和LoRa模块；所述UART通讯口的GPIO Bus Switch采用八个FET bus switch，八个FETbus switch的输出汇总连接到主控MCU；每个FET bus switch可以分别控制与使用，实现待测设备的分时控制；所述测试治具用来固定待测设备和测试底板的精确连接；所述测试底板安装在测试治具内；所述LoRa模块承担本测试系统射频测试任务。
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