[实用新型]一种用于高通量测序芯片的除尘装置有效

专利信息
申请号: 201820417596.9 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN208373738U 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 刘晨;黄金;卢安值;田志坚;陈翠;丁芬;吴昊 申请(专利权)人: 武汉华大医学检验所有限公司
主分类号: B08B6/00 分类号: B08B6/00
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 廖金晖;彭家恩
地址: 430073 湖北省武汉市东湖开发区高新大道*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型公开了一种用于高通量测序芯片的除尘装置,设有用于容置测序芯片的除尘腔,除尘腔的下端为负极端,上端为正极端,除尘腔内形成静电场。由于设有带静电场的除尘腔,测序芯片置于除尘腔内,测序芯片上的及空气中的灰尘与负离子结合带上负电后,趋向正极端沉积,从而测序芯片上的灰尘将被吸附到正极端,实现对测序芯片的清洁。本除尘装置通过静电除尘,为非接触式除尘,避免了划伤测序芯片,并且除尘效果更好,效率更高。
搜索关键词: 测序芯片 除尘腔 除尘装置 正极端 高通量测序 静电场 负电 芯片 本实用新型 除尘效果 非接触式 静电除尘 上端 负极端 负离子 结合带 除尘 划伤 容置 吸附 下端 沉积 清洁
【主权项】:
1.一种用于高通量测序芯片的除尘装置,其特征在于,包括正极板、负极板和电源,所述正极板通过绝缘柱支撑在所述负极板的上方,所述正极板和负极板分别通过电源线与所述电源连接,所述正极板、负极板和绝缘柱围合成用于容置测序芯片的除尘腔。
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