[实用新型]一种激光化学晶圆平坦化加工裝置有效
申请号: | 201820421484.0 | 申请日: | 2018-03-27 |
公开(公告)号: | CN208256622U | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 苏晋苗;苏冠暐 | 申请(专利权)人: | 苏晋苗 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京久维律师事务所 11582 | 代理人: | 邢江峰 |
地址: | 福建省泉州市晋江市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种激光化学晶圆平坦化加工装置,包括晶圆固定与操作整合装置、晶圆进出端口、化学品注入装置、位移与传动装置、清洗与干燥装置、激光与控制装置,进行晶圆平坦化工作,本实用新型是一种解决芯片线幅细微化、金属层剥离的问题,实现平坦化制程精准可靠的激光化学晶圆平坦化的加工装置,同时也简化工序解决平坦化处理效率、提升晶圆制造良率等问题,并改善集成电路制造中机械化学研磨(CMP)对于金属层剥离、产生损伤、低介电质(Low‑k)薄膜的关键性制程等实现了简化工序解决平坦化处理效率、提升晶圆制造良率等问题。 | ||
搜索关键词: | 晶圆 激光化学 本实用新型 平坦化处理 平坦化加工 金属层 平坦化 良率 剥离 集成电路制造 平坦化制程 传动装置 干燥装置 加工装置 控制装置 整合装置 注入装置 研磨 化学品 细微化 与操作 低介 电质 裝置 制程 薄膜 机械化 清洗 制造 激光 损伤 芯片 | ||
【主权项】:
1.一种激光化学的晶圆平坦化加工装置,其特征在于:包括晶圆固定与操作整合装置、晶圆进出端口、化学品注入装置、位移与传动装置、清洗与干燥装置、激光与控制装置,所述晶圆进出端口连接晶圆固定与操作整合装置,输入晶圆加工并于完成加工后输出晶圆,所述化学品注入装置连接晶圆固定与操作整合装置,所述位移与传动装置连接晶圆固定与操作整合装置,所述清洗与干燥装置连接晶圆固定与操作整合装置,所述激光与控制装置连接晶圆固定与操作整合装置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造