[实用新型]定位上样系统有效

专利信息
申请号: 201820491341.7 申请日: 2018-04-08
公开(公告)号: CN208067868U 公开(公告)日: 2018-11-09
发明(设计)人: 刘波;王秀旗;谷峰;董强;魏建辉;石建锐;董永强;刘俊峰;黄建超;陈涛;张玉俏 申请(专利权)人: 天津泰格瑞祥仪器设备有限公司
主分类号: B23Q3/18 分类号: B23Q3/18
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 刘翔
地址: 301906 天津市蓟*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型提供了一种定位上样系统,该系统包括:定位装置、上样装置和放样装置;其中,定位装置的第一支撑面倾斜设置,以使毛坯试样沿倾斜的第一支撑面下滑并与设置于第一支撑面上的第一定位机构对齐;上样装置设置于靠近第一定位机构的位置,用于拾取与第一定位机构对齐的毛坯试样;放样装置设置于上样装置的侧方,用于存放毛坯试样。本实用新型中,在毛坯试样被加工之前,上样装置将毛坯试样放置在定位装置的第一支撑面上,毛坯试样可沿倾斜的第一支撑面下滑并与第一定位机构对齐,从而使每个毛坯试样被上样装置抓取并放置在操作台上的位置、形态是一致的,无需再对各毛坯试样进行精确定位摆放,节省了时间和人力,提高了工作效率。
搜索关键词: 毛坯 上样装置 定位机构 定位装置 对齐 支撑面 本实用新型 放样装置 上样 抓取 工作效率 倾斜设置 侧方 拾取 支撑 摆放 加工
【主权项】:
1.一种定位上样系统,其特征在于,包括:定位装置(1)、上样装置(2)和放样装置(3);其中,定位装置(1)的第一支撑面倾斜设置,以使毛坯试样沿倾斜的所述第一支撑面下滑并与设置于所述第一支撑面上的第一定位机构(4)对齐;所述上样装置(2)设置于靠近所述第一定位机构(4)的位置,用于拾取与所述第一定位机构(4)对齐的所述毛坯试样;所述放样装置(3)设置于所述上样装置(2)的侧方,用于存放毛坯试样。
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