[实用新型]定位上样系统有效
申请号: | 201820491341.7 | 申请日: | 2018-04-08 |
公开(公告)号: | CN208067868U | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
发明(设计)人: | 刘波;王秀旗;谷峰;董强;魏建辉;石建锐;董永强;刘俊峰;黄建超;陈涛;张玉俏 | 申请(专利权)人: | 天津泰格瑞祥仪器设备有限公司 |
主分类号: | B23Q3/18 | 分类号: | B23Q3/18 |
代理公司: | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人: | 刘翔 |
地址: | 301906 天津市蓟*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型提供了一种定位上样系统,该系统包括:定位装置、上样装置和放样装置;其中,定位装置的第一支撑面倾斜设置,以使毛坯试样沿倾斜的第一支撑面下滑并与设置于第一支撑面上的第一定位机构对齐;上样装置设置于靠近第一定位机构的位置,用于拾取与第一定位机构对齐的毛坯试样;放样装置设置于上样装置的侧方,用于存放毛坯试样。本实用新型中,在毛坯试样被加工之前,上样装置将毛坯试样放置在定位装置的第一支撑面上,毛坯试样可沿倾斜的第一支撑面下滑并与第一定位机构对齐,从而使每个毛坯试样被上样装置抓取并放置在操作台上的位置、形态是一致的,无需再对各毛坯试样进行精确定位摆放,节省了时间和人力,提高了工作效率。 | ||
搜索关键词: | 毛坯 上样装置 定位机构 定位装置 对齐 支撑面 本实用新型 放样装置 上样 抓取 工作效率 倾斜设置 侧方 拾取 支撑 摆放 加工 | ||
【主权项】:
1.一种定位上样系统,其特征在于,包括:定位装置(1)、上样装置(2)和放样装置(3);其中,定位装置(1)的第一支撑面倾斜设置,以使毛坯试样沿倾斜的所述第一支撑面下滑并与设置于所述第一支撑面上的第一定位机构(4)对齐;所述上样装置(2)设置于靠近所述第一定位机构(4)的位置,用于拾取与所述第一定位机构(4)对齐的所述毛坯试样;所述放样装置(3)设置于所述上样装置(2)的侧方,用于存放毛坯试样。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津泰格瑞祥仪器设备有限公司,未经天津泰格瑞祥仪器设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201820491341.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于精确制孔的定位装置
- 下一篇:一种回转支承加工用定位盘