[实用新型]圆柱结构横向变形测量装置有效

专利信息
申请号: 201820513343.1 申请日: 2018-04-11
公开(公告)号: CN207946294U 公开(公告)日: 2018-10-09
发明(设计)人: 杨荷;韩萌萌;杨波;刘波;张中才;焦敏;安晓伟 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院电子工程研究所
主分类号: G01N3/06 分类号: G01N3/06;G01B7/16
代理公司: 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 代理人: 龙玉洪
地址: 621999 四川省*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种圆柱结构横向变形测量装置,包括呈筒状结构的套环,该套环设有开口,套环在开口的两侧各设有一个固定支座,所述固定支座上安装有开度测量仪,所述开度测量仪用于测量两个固定支座之间的距离变化值。采用以上方案,可以有效反应结构在圆周方向的整体横向形变,而非采用应变片所测得的局部形变。测量时,结构的横向变形通过本装置套环开口的开合度来进行反应,并经过测量仪实时测量计算,快速得出测量结果,提高测量效率和精度,提高测量可靠性的同时,降低测量成本,优化测试经济性。
搜索关键词: 套环 固定支座 横向变形 开口 测量装置 开度测量 圆柱结构 测量 本实用新型 测量可靠性 测量成本 测量效率 局部形变 距离变化 实时测量 筒状结构 优化测试 有效反应 整体横向 测量仪 开合度 应变片 形变
【主权项】:
1.一种圆柱结构横向变形测量装置,其特征在于:包括呈筒状结构的套环(1),该套环(1)设有开口(10),套环(1)在开口(10)的两侧各设有一个固定支座(2),所述固定支座(2)上安装有开度测量仪(3),所述开度测量仪(3)用于测量两个固定支座(2)之间的距离变化值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院电子工程研究所,未经中国工程物理研究院电子工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201820513343.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top