[实用新型]γ射线吸收参数测量装置有效

专利信息
申请号: 201820558487.9 申请日: 2018-04-19
公开(公告)号: CN208270457U 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 彭帮保;吕强;田瑞峰;王庆宇;刘辉兰;刘阳;聂晓强 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01N23/06 分类号: G01N23/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 实用新型提供一种γ射线吸收参数测量装置,包括底座16、设置在底座16上的滑道15、设置在滑道15上的滑块支撑座12、设置在滑块支撑座12上的放射源11、设置在底座16上的支撑架9、设置在支撑架9内顶面上的下部准直器10、设置在支撑架9上的料位体4、设置在料位体4上的上部支架3、设置在上部支架3上的上部准直器2、设置在上部准直器2上的探测器1,在滑道15上设置有水平仪13;所述下部准直器10、放射源11和滑块支撑座12在所述支撑架9内。通过将不同材料放入料位体中,观察显示标尺,探测器测得的数据可用来测量不同材料的γ射线吸收参数。
搜索关键词: 支撑架 准直器 射线吸收 支撑座 滑道 滑块 料位 底座 参数测量装置 放射源 上部支架 探测器 本实用新型 数据可用 水平仪 放入 内顶 标尺 测量 观察
【主权项】:
1.一种γ射线吸收参数测量装置,其特征在于,包括底座(16)、设置在底座(16)上的滑道(15)、设置在滑道(15)上的滑块支撑座(12)、设置在滑块支撑座(12)上的放射源(11)、设置在底座(16)上的支撑架(9)、设置在支撑架(9)内顶面上的下部准直器(10)、设置在支撑架(9)上的料位体(4)、设置在料位体(4)上的上部支架(3)、设置在上部支架(3)上的上部准直器(2)、设置在上部准直器(2)上的探测器(1),在滑道(15)上设置有水平仪(13);所述下部准直器(10)、放射源(11)和滑块支撑座(12)在所述支撑架(9)内。
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