[实用新型]一种IC老化测试座有效
| 申请号： | 201820590996.X | 申请日： | 2018-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN208026835U | 公开（公告）日： | 2018-10-30 |
| 发明（设计）人： | 杨飞 | 申请（专利权）人： | 深圳市凯力迪科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市博太联众专利代理事务所(特殊普通合伙) 44354 | 代理人： | 郭晓敏 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型为一种IC老化测试座，其结构包括：测试座本体，所述测试座本体设置有外壳体，所述外壳体形状呈“凹”字型，所述外壳体内部设置加热区和测试区，所述加热区内部设置有加热器，所述测试区内部嵌有插入板，所述插入板表面设置数个插孔，所述插孔与IC芯片板插头契合，所述外壳体底部设置四个等距的支撑脚座，所述支撑脚座与外壳体间通过螺丝固定，所述外壳体与底部设置的后盖可拆卸连接，所述外壳体底部设置有电源接口，所述电源接口底部设置有开关，所述电源接口和开关为嵌入式设置。该一种IC老化测试座，通过设置的通风孔以及温度传感器，可以改善老化测试座加热的均匀性，提高IC芯片老化测试的准确性，设计合理，便于使用。 | ||
| 搜索关键词： | 外壳体 老化测试座 电源接口 支撑脚座 测试区 测试座 插入板 加热区 插孔 加热器 本实用新型 可拆卸连接 嵌入式设置 外壳体形状 温度传感器 后盖 表面设置 老化测试 螺丝固定 内部设置 插头 均匀性 体内部 通风孔 字型 等距 嵌有 加热 契合 | ||
【主权项】：
1.一种IC老化测试座，其结构包括：测试座本体(1)，其特征在于：所述测试座本体(1)设置有外壳体(2)，所述外壳体(2)形状呈“凹”字型，所述外壳体(2)内部设置加热区(3)和测试区(4)，所述加热区(3)内部设置有加热器，所述测试区(4)内部嵌有插入板(6)，所述插入板(6)表面设置数个插孔(7)，所述插孔(7)与IC芯片板插头契合，所述外壳体(2)底部设置四个等距的支撑脚座(9)，所述支撑脚座(9)与外壳体(2)间通过螺丝固定，所述外壳体(2)与底部设置的后盖(13)可拆卸连接，所述外壳体(2)底部设置有电源接口(11)，所述电源接口(11)底部设置有开关(12)，所述电源接口(11)和开关(12)为嵌入式设置。
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