[实用新型]一种n层射频基板有效
申请号: | 201820604553.1 | 申请日: | 2018-04-26 |
公开(公告)号: | CN208240849U | 公开(公告)日: | 2018-12-14 |
发明(设计)人: | 张辉;党黎黎;郁发新 | 申请(专利权)人: | 杭州臻镭微波技术有限公司 |
主分类号: | H01P3/18 | 分类号: | H01P3/18 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 林松海 |
地址: | 310030 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种n层射频基板,所述的射频基板包括n层基板衬底和n‑1层填充介质,n≥4;所述的基板衬底由上至下依次为第一金属层至第n金属层,依次记为M1至Mn,其中Mn接地;所述的n层基板衬底之间均由介质填充,共有n‑1层,从上到下依次为第一介质层至第n‑1介质层,介电常数依次记为ε1至ε(n‑1),厚度依次记为d1至d(n‑1);通过选择ε1和d1来调节M1‑M2层叠耦合器的性能,通过选择ε2和d2来调节M1‑M2绕线电感Q值,通过选择介电常数ε(n‑1)和d(n‑1)来调节到地电容,通过选择d(n‑1)来调节隔离性能。本实用新型能够方便自主地根据需要进行选择,在优化性能的同时优化面积,从而在相同面积上实现更多的电子元器件功能,提高集成度。 | ||
搜索关键词: | 衬底 基板 射频基板 介质层 本实用新型 第一金属层 电子元器件 介电常数ε 层叠耦合 从上到下 隔离性能 介电常数 介质填充 绕线电感 接地 集成度 电容 金属层 射频基 填充 优化 | ||
【主权项】:
1.一种n层射频基板,其特征在于,包括n层基板衬底和n‑1层填充介质,n≥4;所述的基板衬底由上至下依次为第一金属层至第n金属层,依次记为M1至Mn,其中Mn接地;所述的n层基板衬底之间均由介质填充,共有n‑1层,从上到下依次为第一介质层至第n‑1介质层,介电常数依次记为ε1至ε(n‑1),其中第一介质层的ε1≥4.2,第二介质层的ε2≤3.7,厚度依次记为d1至d(n‑1);所述的第一介质层采用6785GT_K,所述的第二介质层采用GEA‑705G,d1≤40μm,d2≥60μm。
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