[实用新型]一种克尔效应测量装置

摘要

本实用新型涉及光学技术测量的电磁检测领域，一种克尔效应测量装置，包括激光器I、偏振器、凸透镜I、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、样品台、磁铁、信号发生器、示波器、凸透镜II、光弹调制器、半波片I、斩波器、激光器II、凸透镜III、滤波片、半波片II、检偏器、光电探测器、锁相放大器I、锁相放大器II、计算机、入射光路I、入射光路II，探针中在zx平面内具有通孔I、通孔II和通孔III，通孔II的轴线沿所述圆台轴线方向，通孔I和通孔III的轴线分别位于所述通孔II轴线的两侧、且均与所述通孔II轴线成45度角，本实用新型能够对单个纳米结构进行测量，对样品表面的磁化动态的测量能达到亚微米量级的空间分辨率，降低背景信号，增加灵敏度。

主权项

1.一种克尔效应测量装置，主要包括激光器I、偏振器、凸透镜I、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、样品台、磁铁、信号发生器、示波器、凸透镜II、光弹调制器、半波片I、斩波器、激光器II、凸透镜III、滤波片、半波片II、检偏器、光电探测器、锁相放大器I、锁相放大器II、计算机、入射光路I、入射光路II，xyz为空间直角坐标系、xy平面为水平面，zx平面与水平面垂直，所述探针为原子力显微镜探针且为圆台形状，所述圆台轴线方向与水平面垂直，所述圆台的上底面直径为3微米、下底面直径为1.5微米，所述探针中在zx平面内具有通孔I、通孔II和通孔III，所述通孔II的轴线沿所述圆台轴线方向，所述通孔I和通孔III的轴线分别位于所述通孔II轴线的两侧、且均与所述通孔II轴线成45度角，探针位于原子力显微镜下端，样品位于样品台上，所述样品、样品台、磁体依次位于探针正下方，所述激光器I发射的激光束依次经偏振器、凸透镜I、透镜台、原子力显微镜、探针，从而形成入射光路I，所述激光器II发射的激光束依次经斩波器、半波片I、光弹调制器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜、探针，从而形成入射光路II，其特征是：激光器I与激光器II均为掺钛蓝宝石二极管激光器，激光器I发出的激光为探测光，激光器II发出的激光为泵浦光，激光器I与激光器II都连接于计算机，所述探测光与泵浦光之间的脉冲延时可锁定并调节，激光器I发出的探测光能够依次经偏振器、凸透镜I、透镜台、原子力显微镜、通孔I，并照射到样品上，从样品反射的光能够依次经通孔III、原子力显微镜、透镜台、凸透镜III、滤波片、半波片II、检偏器，并进入光电探测器，激光器II发出的泵浦光能够依次经斩波器、半波片I、光弹调制器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜、通孔II，并照射到样品上，光电探测器输出端连接锁相放大器I的输入端，锁相放大器I的输出端连接锁相放大器II的输入端，锁相放大器II的输出端连接计算机，锁相放大器I的参考信号频率与光弹调制器的调制信号频率相同，锁相放大器II的参考信号频率与斩波器的频率相同，半波片II和半波片I均能够以光路为轴线旋转。