[实用新型]一种用于衰减全内反射色谱仪的上样装置有效

专利信息
申请号: 201820715288.4 申请日: 2018-05-14
公开(公告)号: CN208420658U 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 唐懿挺;罗祖秀 申请(专利权)人: 成都康弘生物科技有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610036 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种用于衰减全内反射色谱仪的上样装置,含有柱状中空构件,利用样品自身重力与底部向上压力的顺差,克服液体样品由于自身浸润特性引起的渗漏,使待测液体的底层形成凹型液膜有效接触ATR晶体反射的凸型表面,提高浸润液体样品检测效果的准确性。本实用新型还通过增设环状防漏部件、带有加样孔的顶盖、盖片以及手持构件提高挥发性、非浸润性液体样品检测的准确性和仪器可操作性。本实用新型所公开的上样装置结构简单、操作简便、成本低、可适性强,可广泛适用于衰减全内反射色谱仪的配套安装和老旧衰减全内反射色谱仪的改造。
搜索关键词: 全内反射 色谱仪 衰减 本实用新型 上样装置 液体样品检测 浸润 柱状中空构件 挥发性 底层形成 防漏部件 手持构件 凸型表面 向上压力 液体样品 有效接触 顶盖 非浸润 加样孔 凹型 盖片 液膜 反射 渗漏 增设 配套 改造
【主权项】:
1.一种用于衰减全内反射色谱仪的上样装置,其特征在于所述上样装置为柱状的中空构件(1)固定安放在衰减全内反射色谱仪的ATR晶体支架板上,与ATR晶体支架板形成容纳腔(2),其底端内切圆半径应大于ATR晶体反射表面的外切圆半径,且小于或等于顶端内切圆半径。
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