[实用新型]测试头、测试装置及芯片测试设备有效
| 申请号： | 201821013239.2 | 申请日： | 2018-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN208872815U | 公开（公告）日： | 2019-05-17 |
| 发明（设计）人： | 龚才 | 申请（专利权）人： | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人： | 李杰;兰淑铎 |
| 地址： | 518045 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型实施例提供一种测试头、测试装置及芯片测试设备。该测试头包括导电主体和设置在导电主体表面的保护覆层，保护覆层至少覆盖导电主体的部分表面，保护覆层的水滴角大于或等于100°。该测试头测试效果更好。 | ||
| 搜索关键词： | 测试头 保护覆层 导电主体 芯片测试设备 测试装置 本实用新型 测试效果 水滴 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种测试头，其特征在于，包括导电主体(10)和设置在所述导电主体(10)表面的保护覆层(20)，所述保护覆层(20)至少覆盖所述导电主体(10)的部分表面，所述保护覆层(20)的水滴角大于或等于100°。
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