[实用新型]一种半导体金属材料新型测试探头有效
| 申请号： | 201821103507.X | 申请日： | 2018-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN208421012U | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 莫宗杰 | 申请（专利权）人： | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人： | 王贤义 |
| 地址： | 519780 广东省珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型旨在提供一种定位精度高、测试准确的半导体金属材料新型测试探头。本实用新型包括底座（2）、组合探针（3）和热电偶（5），所述组合探针（3）包括第一针片（32）和第二针片（33），所述第一针片（32）与所述第二针片（33）相平行，所述热电偶（5）适配设置在所述第一针片（32）和所述第二针片（33）之间，所述底座（2）上设置有槽口（22），所述第一针片（32）、所述第二针片（33）和所述热电偶（5）分别适配放置在所述槽口（22）内,所述第一针片（32）和第二针片（33）的前端分别设置有向内折弯的探测部（31）,两个所述探测部（31）相接触连接。本实用新型应用于测试半导体金属材料的技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 针片 本实用新型 金属材料 热电偶 测试探头 组合探针 槽口 底座 适配 半导体 探测 测试半导体 定位精度高 接触连接 内折弯 有向 平行 测试 应用 | ||
【主权项】：
1.一种半导体金属材料新型测试探头，其特征在于：它包括底座（2）、组合探针（3）和热电偶（5），所述组合探针（3）包括第一针片（32）和第二针片（33），所述第一针片（32）与所述第二针片（33）相平行，所述热电偶（5）适配设置在所述第一针片（32）和所述第二针片（33）之间，所述底座（2）上设置有槽口（22），所述第一针片（32）、所述第二针片（33）和所述热电偶（5）分别适配放置在所述槽口（22）内, 所述第一针片（32）和第二针片（33）的前端分别设置有向内折弯的探测部（31）,两个所述探测部（31）相接触连接。
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