[实用新型]电池片测试装置有效
| 申请号： | 201821173403.6 | 申请日： | 2018-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN208478302U | 公开（公告）日： | 2019-02-05 |
| 发明（设计）人： | 杨冰;刘恩华;费正洪 | 申请（专利权）人： | 盐城阿特斯协鑫阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67;H01L21/683 |
| 代理公司： | 苏州携智汇佳专利代理事务所(普通合伙) 32278 | 代理人： | 尹丽 |
| 地址： | 224431 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种电池片测试装置，包括测试台、探针装置以及与测试台连接的真空吸附管。测试台包括内部中空的支撑部和设于支撑部上用于放置待测样品的导电玻璃。导电玻璃上设有若干真空吸附孔。该电池片测试装置通过用导电玻璃代替镀金台面，导电玻璃的导电性不变，测试台对光的反射率降低；进行双面电池正面或背面光谱响应测试时，未被电池片吸收的光会直接透过导电玻璃，不会被再次反射利用而影响实际光响应值，提高了测试准确度；且导电玻璃比镀金台面的成本低，降低了生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 导电玻璃 测试台 电池片测试装置 台面 镀金 本实用新型 测试准确度 真空吸附孔 导电性 待测样品 光谱响应 内部中空 双面电池 探针装置 真空吸附 电池片 反射率 光响应 支撑 反射 生产成本 背面 测试 吸收 | ||
【主权项】：
1.一种电池片测试装置，包括测试台、探针装置以及与所述测试台连接的真空吸附管；其特征在于：所述测试台包括内部中空的支撑部和设于所述支撑部上用于放置待测样品的导电玻璃；所述导电玻璃上设有若干真空吸附孔。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
