[实用新型]发光器件近场测试装置及测试一体机有效

专利信息
申请号: 201821179876.7 申请日: 2018-07-24
公开(公告)号: CN208795458U 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 刘振辉;王业文;颜华江;杨波 申请(专利权)人: 深圳市矽电半导体设备有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京维正专利代理有限公司 11508 代理人: 任志龙
地址: 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种发光器件近场测试装置及测试一体机,包括机座,所述机座上设有用于承载被测发光件的载片台、用于与被测发光件电极接触的测试针、测试构件、以及于驱动所述测试构件靠近或远离所述载片台的驱动机构,所述测试构件包括物镜、相机以及驱动相机靠近或远离物镜的动力机构,驱动机构可驱动物镜和相机靠近或者远离载片台,使物镜运动至焦距位,将导通被测发光件的光斑情况通过物镜放大反应到相机上;动力机构可驱动相机靠近或者远离物镜,从而采集到若干个位置的光参数,通过相机内的软件进行图像分析,并找出其最小处,即可得到该被测发光件的束腰半径,这样测试装置结构简单,且光斑信息和束腰半径的测试更加精准。
搜索关键词: 相机 发光件 物镜 测试构件 动力机构 发光器件 近场测试 驱动机构 一体机 载片台 测试 驱动 机座 束腰 测试装置结构 本实用新型 可驱动物镜 光斑 电极接触 光斑信息 图像分析 物镜运动 焦距 测试针 光参数 导通 放大 采集 承载
【主权项】:
1.一种发光器件近场测试装置,其特征是:包括机座(1),所述机座(1)上设有用于承载被测发光件的载片台(2)、用于与被测发光件电极接触的测试针(3)、测试构件、以及于驱动所述测试构件靠近或远离所述载片台(2)的驱动机构,所述测试构件包括物镜(41)、相机(42)以及驱动相机(42)靠近或远离物镜(41)的动力机构。
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