[实用新型]温度测试装置有效
| 申请号： | 201821200914.2 | 申请日： | 2018-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN208688674U | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 谢小飞 | 申请（专利权）人： | 深圳市亚派光电器件有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/02 | 分类号： | G01K7/02;G05D23/22;G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种温度测试装置，该温度测试装置用于光模块的温度检测，所述温度测试装置包括：测试箱，所述测试箱形成有容置腔，所述容置腔形成有进风口和出风口；测试控制组件，所述测试控制组件的至少部分容置于所述容置腔内，并与所述光模块电性连接；以及冷热冲击组件，所述冷热冲击组件所述冲击头固定在测试箱上，并与所述进风口连通。本实用新型技术方案旨在在短时间内完成光模块需要检测的温度的变换，缩短光模块的测试时间，提高测试效率，方便用户使用。 | ||
| 搜索关键词： | 温度测试装置 光模块 测试箱 容置腔 本实用新型 测试控制 冷热冲击 进风口 测试效率 电性连接 温度检测 用户使用 冲击头 出风口 连通 测试 检测 | ||
【主权项】：
1.一种温度测试装置，用于光模块的温度测试，其特征在于，所述温度测试装置包括：测试箱，所述测试箱形成有容置腔，所述容置腔形成有进风口和出风口；测试控制组件，所述测试控制组件的至少部分容置于所述容置腔内，并与所述光模块电性连接；以及冷热冲击组件，所述冷热冲击组件包括冲击头，所述冲击头固定在测试箱上，并与所述进风口连通。
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