[实用新型]检测系统及探针装置有效

专利信息
申请号: 201821251003.2 申请日: 2018-08-03
公开(公告)号: CN208588760U 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 李茂杉;陈秄汯;张伯墉 申请(专利权)人: 均豪精密工业股份有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R31/26;G01R19/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 梁丽超;刘彬
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型公开了检测系统及探针装置。一种探针装置及包含有该探针装置的检测系统。探针装置包含有多个第一探针及至少一个第二探针,第一探针及第二探针对应通过第一电连接线及第二电连接线电性连接检测系统的检测设备。当多个第一探针接触面板的晶体管的接脚,以进行漏电流检测时,第二探针不与面板相接触。检测设备将可依据第一探针的量测结果及第二探针的量测结果,以对应产生一结果信息。相关人员或是计算机设备,将可依据结果信息,而更精确地得知第一探针的量测结果。
搜索关键词: 探针 探针装置 检测系统 量测结果 电连接线 检测设备 结果信息 本实用新型 计算机设备 漏电流检测 电性连接 探针接触 晶体管 接脚
【主权项】:
1.一种检测系统,其特征在于,所述检测系统用以对一待测件进行一检测作业,所述检测系统包含:一检测设备,包含有至少一处理装置;一探针装置,电性连接所述检测设备,所述探针装置包含:一本体;多个第一探针,设置于所述本体,所述第一探针的一部分外露于所述本体,多个所述第一探针通过多个第一电连接线电性连接至所述检测设备;至少一个第二探针,设置于所述本体,所述第二探针通过一第二电连接线电性连接至所述检测设备;其中,多个所述第一探针接触所述待测件的多个待测位置,以与所述待测件电性连接,进行所述检测作业时,所述第二探针不与所述待测件电性连接,所述处理装置能依据多个所述第一探针所量测的结果及所述第二探针所量测的结果,产生一结果信息。
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