[实用新型]散射比浊法检测微流控芯片结构

摘要

本实用新型提供了散射比浊法检测微流控芯片结构，属于检测设备领域，包括本体、混合槽和反应小孔，本体上设有样本加液槽、样本定量槽和样本溢流槽，样本加液槽与样本定量槽连通，样本定量槽与样本溢流槽连通，本体上还设有稀释液加液槽、稀释液定量槽和稀释液溢流槽，稀释液加液槽与稀释液定量槽连通，稀释液定量槽与稀释液溢流槽连通，样本定量槽和稀释液定量槽均与混合槽连通，混合槽通过流道组合与反应小孔连通，反应小孔靠近本体圆心的一侧为平面，本体与反应小孔外圈对应位置为外凸的弧形。本实用新型有效的控制散射比浊法检测光线的发散，检测光强灵敏度提升，可用于比色法和透射比浊法进行检测。

主权项

1.散射比浊法检测微流控芯片结构，其特征在于：包括本体，设在本体上的混合槽和多个反应小孔，所述混合槽通过流道组合与所述反应小孔连通，所述反应小孔靠近所述本体圆心的一侧为平面，所述本体与所述反应小孔远离所述本体圆心一侧对应的位置为向外凸起的弧形，所述本体上设有样本加液槽、样本定量槽和样本溢流槽，所述样本加液槽与所述样本定量槽通过微流道连通，所述样本定量槽的上端与所述样本溢流槽连通，所述本体上还设有稀释液加液槽、稀释液定量槽和稀释液溢流槽，所述稀释液加液槽与所述稀释液定量槽通过微流道连通，所述稀释液定量槽的上端与所述稀释液溢流槽连通。